荧光光谱仪报价- 北京卓立汉光公司-荧光光谱仪

MiniPL小型深紫外宽带隙光谱发光光谱仪

光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光）光谱仪；MiniPL采用ystems公司自行研发的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作为激发光源，配合独特的光路设计，采用高灵敏度PMT作为探测器件，并通过仪器内置的门闸积分平均器（Boxcar）进行数据处理，实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL可被用表征半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等，不仅可用于科研领用，更可用在半导体LED产业中的品质检测。

***artFluo系列稳态荧光光谱仪

荧光量子产率测量

荧光量子产率（Quantum Yields）是荧光物质的重要发光参数之一，定义为荧光物质吸光后所发射的光子数与所吸收的激发光的光子数之比值。与传统的对比测试法不同，***artFluo-QY采用积分球对样品进行量子产率的测量，测量结果更准确可靠。采用四步测量方法，荧光光谱仪，可消除激发光二次吸收对测量结果的影响，进一步提高了测量结果的准确性

MiniPL小型深紫外宽带隙光谱发光光谱仪

主要规格特点:

■ 采用5.5(224nm)或5.0 eV深紫外激光器

■ 室温PL光谱测量范围：190~650nm（标准），190~850nm（选配）

■ 高分辨率：0.2nm（@1200g/mm光栅，荧光光谱仪生产厂家，标配），

0.07nm（@3600g/mm光栅，荧光光谱仪厂家，选配）

■ 门闸积分平均器（Boxcar）进行微弱脉冲信号的检测

■ 基于LabView的界面控制

■ 光谱分析软件可获得光谱带宽、峰值波长、峰值副瓣鉴别、光谱数据运算、归化等

■ *大可测量50mm直径样品，样品可实现XYZ三维手动调整（标准）

■ 可选配自动样品扫描装置，荧光光谱仪报价，实现Mapping功能

■ 可用于紫外拉曼光谱测量（需选配高刻线光栅）

■ 高度集成化，体积：15 ×18 × 36cm，重量：lt;8kg

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